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  • 工业测量的两大神器:轮廓仪和三坐标测量机

    2023-11-02 工业自动测量系统基于机器视觉、激光等技术,可以提高产品精度和生产效率。它基于数字图像处理技术和人工智能技术,能够在生产线上自动完成对产品尺寸的检测和测量,如用于各种形状、各种材质的产品的测量(机械零件的尺寸测量、汽车零部件质量控制、精密机床检测)等。除了产品测量外,它还能应用于刀具的形状和尺寸的检测、铸造件表面缺陷的检测等诸多领域,实现对产品高速、高精度、高效率的检测与控制。其中轮廓仪和三坐标测量机作为其中最为重要的两种工业自动测量仪器,在高精度测量领域中扮演着不可替代的角色...
  • 晶圆表面形貌及台阶高度测量方法

    2023-11-02 晶圆在加工过程中的形貌及关键尺寸对器件的性能有着重要的影响,而形貌和关键尺寸测量如表面粗糙度、台阶高度、应力及线宽测量等就成为加工前后步骤。以下总结了从宏观到微观的不同表面测量方法:单种测量手段往往都有着自身的局限性,实际是往往是多种测量方法配合使用。此外,除表面形貌和台阶测量外,在晶圆制程中需要进行其他测量如缺陷量测、电性量测和线宽量测。通过多种测量方式的配合,才能保证器件的良率和性能。半导体晶圆表面形貌的测量可以直接反映晶圆的质量和性能。通过对晶圆表面形貌的测量,可以及时...
  • 台阶仪工业测量仪器:揭秘多领域应用

    2023-11-02 台阶仪能检测哪些东西?主要应用在哪些领域?台阶仪是一种常见的工业测量仪器,广泛应用于大学、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LED、太阳能、MEMS微机电、触摸屏、汽车、医疗设备等行业领域。它能完成对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。工作原理当触针沿被测表面轻轻滑过时,由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。CP200台阶仪采用线性可变差动电容传感器(LVDC),具有...
  • 筛网孔径测量方法,您了解多少?

    2023-11-01 筛网是一种表面有均匀而稳定的透气孔、具有筛选和过滤作用的工业用品,常见的有金属丝编织网和冲孔板筛网,广泛用于新能源汽车、太阳能光伏、冶金、煤炭、橡胶、石油、化工、制药、建材、粮油等行业。筛网有着严格的网孔尺寸规范,需要符合标准认可,筛网的线径、网孔(尺寸规范)是否符合要求,需要专业的尺寸测量工具来检测。一、目视测量法目视测量法是筛网孔径大小测量中常用的方法之一,简单易行,适用于孔径较大的筛网。其具体操作流程如下:(1)选取与筛网孔径大小相同的标准物品,如钉子、铜丝等,称为量规...
  • 双频激光干涉仪其拥有怎样的功能呢?

    2023-10-27 双频激光干涉仪是一种常用的实验室仪器,可以用于测量长度、形状、表面粗糙度等物理量。它基于干涉原理,利用激光源发出两个频率不同的激光束,通过干涉产生干涉条纹来进行测量。在激光干涉仪中,激光源会发出两个频率不同的激光束,其中一个激光束为参考光,另一个激光束则被用来测量待测物体的位移或形变。这两束激光束会经过分束器和反射镜,最终在检测器上产生干涉信号。双频激光干涉仪是在单频激光干涉仪的基础上发展的一种外差式干涉仪。和单频激光干涉仪一样,激光干涉仪也是一种以波长作为标准对被测长度进行...
  • WD4000无图晶圆检测机:助力半导体行业高效生产的利器

    2023-10-26 晶圆检测机,又称为半导体芯片自动化检测设备,是用于对半导体芯片的质量进行检验和测试的专用设备。它可以用于硅片、硅晶圆、LED芯片等半导体材料的表面检测,通过对晶圆的表面特征进行全面检测,可以有效降低产品的不良率,提高产品的稳定性和可靠性。一种晶圆表面形貌测量方法-WD4000无图晶圆几何量测系统WD4000无图晶圆检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3DMapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、...
  • 台阶仪和轮廓仪在工业制造领域的区别和应用领域解析

    2023-10-26 测量和检测是工业制造领域的重要环节,而台阶仪和轮廓仪则是各有其特点和应用范围的两种仪器。台阶仪和轮廓仪区别在哪?一、台阶仪1、产品概述台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器。它是利用光学干涉原理,对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。2、产品特点台阶仪在工业生产中,常用来保证产品的质量和工艺要求的达标。它对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的...
  • 以下便是双频激光干涉仪的主要结构组成部分

    2023-10-25 双频激光干涉仪是一种常用的实验室仪器,可以用于测量长度、形状、表面粗糙度等物理量。它基于干涉原理,利用激光源发出两个频率不同的激光束,通过干涉产生干涉条纹来进行测量。在激光干涉仪中,激光源会发出两个频率不同的激光束,其中一个激光束为参考光,另一个激光束则被用来测量待测物体的位移或形变。这两束激光束会经过分束器和反射镜,最终在检测器上产生干涉信号。双频激光干涉仪是在单频激光干涉仪的基础上发展的一种外差式干涉仪。和单频激光干涉仪一样,激光干涉仪也是一种以波长作为标准对被测长度进行...
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